8 913 734-01-51
ARL X’TRA | Квантум Лаб
8 913 734-01-51
Порошковые рентгеновские дифрактометры

ARL X’TRA

Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



ARL X'TRA — это современная многоцелевая система для научно-исследовательских и промышленных аналитических лабораторий, которая идеально подходит и для рутинного анализа, и для решения сложных исследовательских задач.

ARL X'TRA занимает лидирующее положение в области порошковой рентгеновской дифракции, благодаря двадцатилетнему опыту использования системы на рынках Северной Америки (в том числе под маркой Scintag). Широкие аналитические возможности ARL X'TRA Рентгеновская дифракция является универсальным неразрушающим методом анализа, предоставляющим информацию о структуре и фазовом составе различных материалов. Определение фазового состава пробы. Количественное определение известных фаз в смеси. Кристаллография — уточнение структуры кристаллов.

Проведение в различных условиях — изменение температуры, давления или газовой атмосферы. Анализ поверхности и тонких пленок и текстуры Разнообразие материалов ARL X'TRA позволяет анализировать широкий спектр материалов, при этом возможно исследование жидких и токсичных образцов, что позволяет использовать прибор в лакокрасочной и фармацевтической промышленности, а также в криминалистических лабораториях. Конструкционные особенности прибора В настоящее время широкое распространение в порошковой дифрактометрии получила вертикальная геометрия — Брэгга-Брентано, которая заменила традиционную вертикальную или горизонтальную геометрию. При использовании геометрии — предметный столик остается неподвижным при сканировании и находится в горизонтальном положении, это позволяет анализировать даже непрессованные порошки или жидкости. Использование такой геометрии на дифрактометре ARL X'TRA способен подбирать оптимальную конфигурацию и проводить последующую модернизацию модульной системы дифрактометра.

В зависимости от типа анализа или вида пробы конфигурация системы легко изменяется за счет дополнительных компонентов оптики и модульной конструкции столика, которая позволяет пользователям менять столики без длительной процедуры настройки. Штекерная система способна быстро заменять приставки столика и изменять конфигурацию оптики без утомительной регулировки.

Последние достижения в прецизионной механике значительно улучшили надежность и точность системы цифрового серво-привода высокого разрешения с оптическим декодером, что позволило увеличить точность позиционирования декодера до 0.00025 градуса. Оптимальное соотношение интенсивности и разрешающей способности за счет изменения оптической схемы прибора. Управляемые компьютером щели падающего и отраженного пучка дают возможность оператору постоянно подстраивать щели дифрактометра ARL X'TRA, позволяя выбирать оптимальный баланс между интенсивностью и угловым разрешением. Возможность постоянной подстройки также даёт возможность оптимизировать положения щелей в зависимости от кристаллографии материалов.
Оптическая схема способна одновременно устанавливать в отрегулированные положения парафокусирующую оптику и тонкопленочный колли-матор высокого разрешения. В результате повышается интенсивность без потерь в разрешении и снижение фона.

Для устранения эффектов связанных с наклоном образца относительно плоскости дифракции при измерении полюсных фигур и анализе напряжений с помощью полукруглой приставки используется точечный коллиматор, ограничивающий поперечное сечение первичного пучка с двух сторон — вдоль и поперек плоскости дифракции. При этом значительно снижается чувствительность рентгеновской оптической схемы к наклонам образцов и улучшается разрешение. Воможность устанавливать плоский и изогнутый монохроматоры при работе со сцинтилляционным детектором позволяет отфильтровывать характеристическое Kβ излучение.

Дополнительные приставки
Стандартная конфигурация системы ARL X'TRA, в основном ориентированная на распознавание и количественное измерение фаз, легко дополняется принадлежностями со следующими функциями:
  • Рутинный анализ партий с помощью многопозиционного пробоподатчика.
  • Анализирование в режиме отражения с помощью полукруглой опоры.
  • В режиме пропускания с помощью столика пропускания.
  • Эксперименты в условиях очень низких и очень высоких температур, в вакууме, в воздухе, в инертном газе или в условиях контролируемой влажности.
  • Анализ чувствительных к воздуху материалов с помощью капиллярного столика, а также активных материалов в климатической камере.
  • Исследования твердотельных реакций и реакций твердое тело — газ в реакционной камере устанавлиеваемой непосредственно на гониометр.
  • Полупроводниковый Si (Li) детектор Пельтье Полупроводниковые детекторы в наших приборах постоянно совершенствовались на протяжении 20 лет.
  • В настоящее время используется кремний-литиевый детектор с холодильником Пельтье. Данная конструкция позволила снизить внутренние шумы детектора до 0.1 имп/сек.
Основные преимущества детектора
  • Увеличение интенсивности дифракционного излучения за счет электронного разделения энергий — минимум в два раза по сравнению с интенсивностью стандартного сцинтилляционного детектора с β-фильтром и в 3 — 4 раза по сравнению со стандартным сцинтилляционным детектором и графитовым монохроматором дифракционного излучения.
  • Внутренний фон ниже 0.1 имп/сек.
  • Очень высокий кпд — регистрирует почти 100% рентгеновского излучения Cu K .
  • Линейная скорость до 50'000 имп/сек. Охлаждаемый водой 5 ступенчатый модуль Пельтье (1 л/мин).
  • Не требующая ухода конструкция, без риска повреждений в случае отключения водяного охлаждения.
  • Конструкционная особенность детектора способна менять оптическую конфигурацию менее чем за 5 минут без юстировки прибора.
  • Кроме того, данный полупроводниковый детектор обеспечивает превосходное качество дифрактограммы в режимах парафокусирующей оптики и оптики параллельного пучка.
  • Программа WinXRD для управления, сбора и анализа данных Программа WinXRD работает в среде Windows NT, совместимой с Microsoft WindowsTM 2000 и ХР. Современный программный пакет полностью интегрирован в систему и обеспечивает плавный переход от сбора данных к анализу, и составлению отчета.
Программа сбора данных позволяет выполнять следующие измерения:
Симметричные нормальные сканы под углами: асимметричные сканы под углом и сканы качания под углом . Ступенчатое сканирование с выводом на дисплей в реальном времени, с возможностью для пользователя задавать время и скорость счета для различных скоростей сбора данных. Непрерывная регистрация данных сканирования с выводом на дисплей в реальном времени с переменной скоростью и высокоскоростной сбор информации.

Накопление данных для угла скольжения при анализе тонких пленок. Программа анализа данных выполняет следующие функции: Фоновая коррекция, выделение Kα2, коррекция поляризации Лоренца и обработка шумов посредством быстрого преобразования Фурье. Современная система поиска пиков с автоматическим профилированием по методу Pearson VII. Поиск соответствий в базе данных ICDD или пользователя. Количественный фазовый анализ по методам внутреннего, внешнего и сложения стандартов, а также по относительным интенсивностям эталонов.

Определение размера кристаллов по методам Шеррера, Уоррена-Авербаха или Вильямсона-Холла. Кристаллографический анализ (индексация и уточнение структуры) с 2-х и 3-х мерными графиками. Автоматическая индексация TREOR для формирования параметров решетки по списку пиков, в отсутствие знаний о кристаллической системе. Текстурный анализ с 2-х и 3-х мерными полюсными фигурами. Построение полюсных фигур по текстурным данным под углом скольжения для анализа тонких пленок
Электрические параметры:
Одна фаза, 200-250В, 32А, 50-60Гц

Вес для транспортировки:
600 кг, включая упаковку

Требования к воде:
5.0 литра в минуту, давление 4-6 бар, температура 16 С -24 С

Рабочая температура:
От 18 С до 32 С

Фильтр:
Рекомендуется 5-ти микронный фильтр для удаления частиц из воды

Размеры прибора:
 1483 х 1154 х 825 мм

Размеры прибора для транспортировки:
1966 х 1220 х 996 мм

© ООО «Квантум Лаб»
2008 — 2018
8 913 734-01-51